融合鍍層市場(chǎng)需求，設計岀的一款性能高的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀。適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無(wú)損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來(lái)定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量，廣泛應用于電路板、半導體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、衛浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。
客戶(hù)一般使用奧林巴斯Vanta?手持式X射線(xiàn)熒光（XRF）光譜儀*來(lái)確定合金，金屬和其他材料的化學(xué)成分，但您是否知道還可以使用手持式XRF光譜儀測量涂層鍍層的厚度？奧林巴斯Vanta手持式XRF光譜儀可以測量金屬，塑料，玻璃甚至木材上涂層鍍層的厚度。
Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀技術(shù)規格
| 1.1外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 8.3 × 28.9 × 24.2 cm |
|---|---|
| 2.重量 | 手持式光譜儀帶電池時(shí)1.70公斤；不帶電池時(shí)1.48公斤。 |
| 3.激勵源 | 4瓦特X射線(xiàn)管，其根據不同應用而優(yōu)化的陽(yáng)材料包括銠（Rh）、銀（Ag）和鎢（W）。 M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV C系列手持式光譜儀（Rh和W）：8 ～ 40 kV L系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀 |
| 4.主光束過(guò)濾 | 每個(gè)模式每條光束有8個(gè)位置的自動(dòng)選擇過(guò)濾器。 |
| 5.探測器 | M系列Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀：大區域硅漂移探測器 C系列手持式光譜儀：硅漂移探測器 |
| 6.電源 | 可拆裝的14.4 V鋰離子電池或 18 V電源變壓器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 大70 W |
| 7.顯示 | 800 × 480 (WVGA)液晶電容式觸摸屏，可使用手指進(jìn)行控制 |
| 8.操作環(huán)境 | 溫度：–10 °C ～ 50 °C（帶可選風(fēng)扇時(shí)，可連續工作）。 濕度：相對濕度為10 % ～ 90 %，無(wú)冷凝。 |
| 9.墜落測試 | 通過(guò)了美軍標準810-G的1.3米高墜落測試。 |
| 10.IP評級 | IP65*：防塵，而且可防止來(lái)自各個(gè)方向的水噴。 |
| 11.1壓力校正 | 內置氣壓計，用于海拔和空氣密度的自動(dòng)校正。 |
| 12.GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
| 13.操作系統 | Linux |
| 14.數據存儲 | 4 GB嵌入存儲，帶有microSD卡插槽，可擴展存儲容量。 |
| 15.USB | 兩個(gè)USB 2.0 A型主端口，用于諸如Wi-Fi、藍牙和USB閃存驅動(dòng)盤(pán)等配件。 一個(gè)USB 2.0袖珍B型端口，用于連接計算機。 |
| 16.Wi-Fi | Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過(guò)可選購USB適配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。 |
| 17.藍牙 | Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀通過(guò)可選購USB適配器，支持藍牙和藍牙低能功能。 |
| 18.瞄準攝像頭 | 全VGA CMOS攝像頭Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀 |
| 19.全景攝像頭 | 5百萬(wàn)像素CMOS攝像頭，帶自動(dòng)聚焦透鏡。 |
Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀–涂層鍍層材料的其他常見(jiàn)應用：
1.屏蔽電子設備：導電涂層鍍層用于幫助屏蔽塑料設備；
2.建筑表面處理：涂層鍍層可保護鐵和鋼免受銹蝕，銅和黃銅不會(huì )失去光澤，鋅和鋁可以防污漬；
3.太陽(yáng)能電池：許多太陽(yáng)能電池都有薄合金或聚合物涂層鍍層；
4.工具鋼：鈦和碳化鎢有助于提高耐磨性和耐用性；
5.電氣布線(xiàn)：鋅和鎳涂層鍍層正在取代傳統的鎘涂層鍍層；
Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀如何測量涂層鍍層
Vanta手持式XRF光譜儀可根據材料測量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線(xiàn)從手持式XRF光譜儀發(fā)出，它們撞擊樣品，使其發(fā)出熒光。用于材料成份辨別（PMI）的Vanta-手持金屬鍍層光譜分析儀如
用于材料成份辨別（PMI）的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀，可為用戶(hù)提供為精細的材料化學(xué)成份信息，從而可快速精確地辨別金屬的牌號，以確保用戶(hù)在關(guān)鍵的位置上安裝牌號正確的合金部件。接收返回的的X射線(xiàn)并使用數據計算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度。
